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       直讀光譜分析儀檢測樣品本身狀態(tài)對于檢測結(jié)果有著多方面影響，樣品本身的組織結(jié)構(gòu)，樣品的制備精度，或者是樣品的溫度變化，狀態(tài)不同，對于檢測結(jié)果深有影響。

       樣品的組織結(jié)構(gòu)的影響

       儀器所帶的校準(zhǔn)曲線采用國際標(biāo)準(zhǔn)樣品制作。由于標(biāo)準(zhǔn)樣品和試樣的冶煉工藝和制作過程不同，標(biāo)準(zhǔn)樣品多為鍛造、軋制狀態(tài)，試樣多為澆鑄狀態(tài)，加工過程不同，組織結(jié)構(gòu)也不同，影響其熔點和導(dǎo)熱性，改變其被光源清濁的程度，從而影響分析結(jié)果。采用中低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)樣品(GSBH40068～93)驗證曲線線性和準(zhǔn)確性，其中硫元素的線性和準(zhǔn)確性偏離較大。為了消除組織結(jié)構(gòu)不同造成的影響，在光譜分析中我們采取如下措施：在原校正曲線的基礎(chǔ)上，根據(jù)不同單位的樣品，制作現(xiàn)場校準(zhǔn)曲線；用自制控制樣品進(jìn)行類型標(biāo)準(zhǔn)化，用自制控制樣品類型標(biāo)準(zhǔn)化后的曲線進(jìn)行樣品分析。

       樣品的制備精度影響

       樣品制備對分析結(jié)果有顯著影響，特別對硫元素影響更大。一般要求樣品表面要潔凈、紋路清晰，無氣孔、砂眼。有氣孔、砂眼，將影響激發(fā)效果，使結(jié)果偏高。紋路不清晰對測量結(jié)果也有影響，同一塊樣品磨制，紋路不清，分析結(jié)果與紅外碳硫儀對照，結(jié)果偏差較大，重新磨制紋路清晰后再分析，則結(jié)果與紅外碳硫儀測定值接近。

光譜分析儀的檢驗檢測

       樣品溫度的影響

       通過長期實踐證明，光譜分析樣品的溫度與檢測結(jié)果也有很直接的關(guān)系，所以在前面取樣分析中已作了詳細(xì)的闡述，特別是樣品溫度對硫元素測定結(jié)果產(chǎn)生一定影響，溫度越高，影響越大。因此在制樣或樣品激發(fā)過程中，如果樣品溫度過高，應(yīng)將樣品冷卻至接近室溫后再測定。樣品元素分布的偏析對測量結(jié)果的影響，金屬材料中各個元素分布偏析現(xiàn)象是普遍存在的，只有對標(biāo)準(zhǔn)樣品的制備才提出了較高的元素均勻化處理的要求，所以在檢測過程中只能通過控制檢測樣品的溫度，特別是硫，它是鋼中易偏差的元素之一。鋼在冷卻過程中，是由外至內(nèi)逐漸冷卻的，由于中心溫度高于邊緣溫度，硫元素向中心富集造成偏差，易導(dǎo)致測量結(jié)果偏差較大。在取制樣品時要緩冷，避免急冷，分析時應(yīng)至少激發(fā)3個點，而且激發(fā)點分布要均勻。