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熒光光譜分析中的X射線光譜分析簡(jiǎn)述
發(fā)布時(shí)間：2018-06-20 17:04:32 點(diǎn)擊：8584
因?yàn)椴煌卣鱔射線存在于不同元素中，而根據(jù)特征譜線的波長(zhǎng)，可以判定元素的存在，根據(jù)譜線的強(qiáng)度，又可進(jìn)定量分析。而前者在原子物理學(xué)中則被稱(chēng)之為定性分析法，后者被稱(chēng)之為定量分析法。
每一種元素都有其特定波長(zhǎng)的特征X射線。試樣受X射線照射后,其中各元素原子的內(nèi)殼層(KL或M層)電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷,并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。元素特征X射線的強(qiáng)度與該元素在試樣中的原子數(shù)量(即含量)成比例,因此,通過(guò)測(cè)量試樣中某元素特征X射線的強(qiáng)度,采用適當(dāng)?shù)姆椒ㄟM(jìn)行校準(zhǔn)與校正,便可求出該元素在試樣中的百分含量,也就是所謂的定量分析。
X熒光光譜分析分析范圍很廣，可從Be-U,而且對(duì)分析試樣的物理狀態(tài)不作要求，像固體、粉末、晶體、非晶體都可作為試驗(yàn)對(duì)象。也不受元素的化學(xué)狀態(tài)的影響。重要的是它屬于物理過(guò)程中的非破損性分析，是一種試樣不發(fā)生化學(xué)變化的無(wú)損分析方法。它還可以對(duì)均勻試樣進(jìn)行表面的分析。
X熒光光譜分析被應(yīng)用于很多領(lǐng)域，比如地質(zhì)、冶金、礦山、電子機(jī)械、石油、化工、航空、航天材料、農(nóng)業(yè)、生態(tài)環(huán)境、建筑材料、商檢等領(lǐng)域的材料化學(xué)成分分析，它的直接分析對(duì)象有以下幾種:
1.固體3.稀土
總之，由于X熒光光譜分析因其檢測(cè)速度快、小巧、精準(zhǔn)、無(wú)損等優(yōu)勢(shì)逐漸被眾多企業(yè)所接受。
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